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Mikroskopische Inspektion von vergoldeten Halbleitergehäusen auf Trägerband während des Bauteils

Mikroskopische Inspektion von vergoldeten Halbleitergehäusen auf Trägerband während des Bauteils

Von Stovtwo

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Eigenschaften
Länge
0:21
Auflösung
3840 x 2160
Dateigröße
501 MB
Rahmengeschwindigkeit
25 fps
Alphakanal
Nein
Geloopt
Nein
Video-Codierung
H.264
Orientierung
Horizontal
Handelslizenz
Weitere Informationen

Beschreibung

Mikroskopische Inspektion von vergoldeten Halbleitergehäusen auf dem Trägerband während der Bauteilherstellung, wobei die Qualitätskontrolle und die beleuchteten Details entlang der Rolle hervorgehoben werden

Testen der Elektronisch Komponente 02799